產(chǎn)品簡介

      當(dāng)對有限的樣本進(jìn)行ChIP-Seq時(shí)，最大限度地保留已經(jīng)珍貴的樣本是關(guān)鍵。Active Motif的Low Cell優(yōu)化模塊使Low Cell ChIP-Seq Kit用戶能夠在協(xié)議進(jìn)行過程中監(jiān)測樣品保留情況。這種首創(chuàng)的模塊包括“陽性對照”樣品和抗體，以及用于檢測超聲和ChIP富集后染色質(zhì)數(shù)量和質(zhì)量的試劑。使用該模塊，研究人員可以在整個(gè)ChIP-Seq協(xié)議中監(jiān)測低細(xì)胞樣本，識別和優(yōu)化導(dǎo)致樣本丟失的步驟，并通過只處理將產(chǎn)生有價(jià)值的ChIP-Seq數(shù)據(jù)的樣本來節(jié)省時(shí)間和金錢。

低單元優(yōu)化模塊亮點(diǎn)
“陽性對照”樣品和抗體使用戶能夠優(yōu)化協(xié)議步驟，而不浪費(fèi)寶貴的樣品
可以在整個(gè)方案中檢查染色質(zhì)的數(shù)量和質(zhì)量，以快速識別表現(xiàn)不佳的步驟
從低細(xì)胞ChIP-Seq套件單獨(dú)出售，以便僅在必要時(shí)進(jìn)行優(yōu)化

通過ChIP-Seq協(xié)議檢測低輸入染色質(zhì)
      該模塊旨在與低細(xì)胞ChIP-Seq試劑盒一起使用，在使用寶貴的樣本之前優(yōu)化協(xié)議步驟，或排除協(xié)議中導(dǎo)致樣本丟失的點(diǎn)。低細(xì)胞ChIP-Seq試劑盒是足夠強(qiáng)大的工作與高豐度組蛋白修飾和低豐度轉(zhuǎn)錄因子蛋白。包括下一代DNA文庫和下一代DNA索引試劑，以生成與Illumina?平臺兼容的高復(fù)雜性測序文庫。
不要在工作流優(yōu)化上浪費(fèi)寶貴的樣本
陽性控制樣本(Jurkat細(xì)胞顆粒)和抗體(AbFlex?H3K9ac)包含在模塊中，用于低細(xì)胞ChIP-Seq協(xié)議的用戶優(yōu)化。這為用戶提供了在使用低輸入、珍貴樣本之前優(yōu)化工作流程條件的能力。這些陽性對照試劑，不提供任何其他低細(xì)胞ChIP-Seq試劑盒在市場上，為用戶節(jié)省了優(yōu)化和故障排除他們所關(guān)心的樣品協(xié)議的挫折。

低單元優(yōu)化模塊數(shù)據(jù)
在整個(gè)ChIP-Seq協(xié)議中檢查低輸入樣本
使用Low Cell ChIP-Seq，研究人員可以減少他們正在研究的細(xì)胞數(shù)量，以提高他們對蛋白質(zhì)- dna相互作用復(fù)雜性的理解，使其適用于更有限的細(xì)胞群。如果樣品數(shù)量有限，難以培養(yǎng)細(xì)胞系，或小組織活檢，該檢測方法是理想的。在整個(gè)ChIP- seq協(xié)議中，最大限度地保留有限的樣本是很重要的，這就是為什么Active Motif開發(fā)了一個(gè)模塊，在工作流程的中間步驟檢查樣本:在染色質(zhì)制備和ChIP富集之后(見下面第1天和第4天的紫色步驟)。

染色質(zhì)制備后確定樣品數(shù)量
低細(xì)胞ChIP-Seq試劑盒中使用的許多有限樣本將低于用于DNA定量的常用儀器(例如量子位)的檢測限度。因此，我們建議使用基于qpcr的方法來檢查染色質(zhì)制備后的樣本，以確保保留足夠的樣本來進(jìn)行該方案。

分析染色質(zhì)制備后的樣品碎片
準(zhǔn)確的樣本碎片是高質(zhì)量ChIP-Seq數(shù)據(jù)不可或缺的一部分。低細(xì)胞優(yōu)化模塊允許在染色質(zhì)制備(第1天)之后檢查樣品碎片分布，而不是在NGS文庫制備(第4天)之后。早期檢查碎片允許用戶高效地優(yōu)化樣品超聲處理，而無需在富集和文庫制備上浪費(fèi)時(shí)間和試劑。

確認(rèn)樣品富集后芯片
為了確保您的樣品的特異性和成功的抗體富集，我們建議使用針對陽性和陰性對照區(qū)域的引物來擴(kuò)增和表征折疊富集。低細(xì)胞優(yōu)化模塊中包含的引物用于H3K9ac抗體。如果使用其他抗體，請檢查Active Motif的ChIP Control qPCR引物集，找到適合目標(biāo)的引物。

從陽性對照樣品中可視化ChIP-Seq峰值
陽性對照試劑(Jurkat細(xì)胞顆粒，H3K9ac抗體和對照引物集)包含在低細(xì)胞優(yōu)化模塊中，允許用戶在使用任何寶貴的樣本之前熟悉和排除低細(xì)胞ChIP-Seq試劑盒。在檢查染色質(zhì)質(zhì)量和數(shù)量后，可以對陽性對照樣品進(jìn)行測序，以確認(rèn)ChIP-Seq峰如預(yù)期出現(xiàn)